测试

EIRP、占用带宽、天线波束/隔离/互耦与雷达罩透波插损的测量判据

• 雷达罩透波插损方向图畸变怎么测

  雷达罩要在微波暗室带真实罩型测透波插损与方向图畸变，平片数据不能替代曲面装车状态，姿态和频段要覆盖边缘波束。

• 雷达射频前端 EIRP 与占用带宽怎么测

  EIRP 与占用带宽在微波暗室用替代法或直射法测，先定参考天线与距离，再按发射模板判越界，距离和姿态要固定。

• 天线阵列波束宽度增益隔离互耦怎么测

  天线阵列要在暗室测波束宽度、增益、通道隔离与互耦，用校准件消除系统误差，隔离互耦不足会直接拉低角分辨。